一、透射電子顯微鏡的成像原理可分為三種情況：

1、吸收像：當電子射到質量、密度大的樣品時，主要的成相作用是散射作用。樣品上質量厚度大的地方對電子的散射角大，通過的電子較少，像的亮度較暗。早期的透射電子顯微鏡都是基于這種原理。

2、衍射像：電子束被樣品衍射后，樣品不同位置的衍射波振幅分布對應于樣品中晶體各部分不同的衍射能力，當出現晶體缺陷時，缺陷部分的衍射能力與完整區域不同，從而使衍射波的振幅分布不均勻，反映出晶體缺陷的分布。

3、相位像：當樣品薄至100?以下時，電子可以穿過樣品，波的振幅變化可以忽略，成像來自于相位的變化。

二、掃描電子顯微鏡成像原理

掃描電子顯微鏡通過用聚焦電子束掃描樣品的表面來產生樣品表面的圖像。

電子與樣品中的原子相互作用，產生包含關于樣品的表面測繪學形貌和組成的信息的各種信號。電子束通常以光柵掃描圖案掃描，并且光束的位置與檢測到的信號組合以產生圖像。

掃描電子顯微鏡可 以實現分辨率優于1納米。樣品可以在高真空，低真空，濕條件（用環境掃描電子顯微鏡）以及寬范圍的低溫或高溫下觀察到。

*常見的掃描電子顯微鏡模式是檢測由電子束激發的原子發射的二次電子。可以檢測的二次電子的數量，取決于樣品測繪學形貌，以及取決于其他因素。

通過掃描樣品并使用特殊檢測器收集被發射的二次電子，創建了顯示表面的形貌的圖像。它還可能產生樣品表面的高分辨率圖像，且圖像呈三維，鑒定樣品的表面結構。